第17届世界无损检测大会技术委员会热忱欢迎全世界无损检测人员踊跃投稿。作者可要求稿件在大会发言，分组会交流或选择张贴。 大会语言为英语。

　　摘要和论文截止日期分别延长至：
　　摘要截止日期：2007年12月31日， 2008年1月31日前发录用通知
　　全文截止日期：2008年6月15日， 2008年6月30日前发录用通知

　　1 相关信息
　　* 整篇摘要的字数（包括作者姓名、单位、城市、国家）不得多于300字。并请注明关键词5个以内。
　　* 作者可通过网站：www.17wcndt.com 或电子信箱：chsndt@public2.sta.net.cn或
　　chsndt2008@163.com,投寄一篇以上用英语书写的摘要，摘要录用后再投寄全文（英文），传真不接受。
　　* 作者在投寄摘要时必须在网上填写一份登记表，注明稿件所属专业和选择口头交流还是张贴，并与摘要同时通过网站投寄。
　　* 大会技术委员会在2008年1月31日前发出摘要录用通知。
　　* 收到摘要录用通知后，作者必须在 2008年6月30日前通过本网站注册参加大会，否则被视为不参加会议，论文将不收入大会论文集。
　　* 不得投寄以前发表过的摘要、文章。
　　* 与会代表将得到一本摘要集和一张收集大会全部论文的CD光盘。

　　2 摘要格式

** 摘要题目用英文(实词首字母大写)。

** 第一作者，第二作者依次排列。

** 单位，城市，国家。

** 摘要。

** 关键词。

　　3 举例
　　Ppreparing Testing by Providing Critical Systems
　　D. Rouillard, P. Casteran, P.Felix, R.Castanet; Bordeaux; France
　　The objective of this study was….